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Belgio – Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgioPubblicato il 03 giu 2026
Nessuna scadenza indicata

Descrizione

SISTEMA MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE AD IONI FOCALIZZATI CON FASBE A PLASMA (PFIB-SEM)

Codici CPV

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

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