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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop

Universität RostockGermaniaPubblicato il 26 mar 2026

Scadenza superata

Descrizione

Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock am Lehrstuhl für Werkstofftechnik ein Dual-Beam Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB) zu beschaffen. Das Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB soll für die Untersuchung von Werkstoffen und Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt werden.

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Scanning electron microscopes

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