Polska – Skanujące mikroskopy elektronowe – ZP/G/S/64/26 Modułowa platf. do oceny jakości stopów metali lekkich wytw. na bazie mat. z recyklingu, cz. 3 Skaningowy mikroskop elektron.(SEM) wraz z zintegrowanym syst. do precyzyjnych analiz mat. i morfolog./Modular platf. for quality assessm. of light metal alloys from recycled materials, lot 3: Scanning electron microscope(SEM) with an integrated syst. for precise mat. and morpholog. analysis

„Modułowa platforma do oceny jakości stopów metali lekkich wytwarzanych na bazie materiałów pochodzących z recyklingu, cz. 3 Skaningowy mikroskop elektronowym (SEM) wraz z integrowanym systemem do precyzyjnych analiz materiałowych i morfologicznych”/ The subject-matter of the procurement is supply of Modular platform for quality assessment of light metal alloys produced from recycled materials, lot 3: Scanning electron microscope (SEM) with an integrated system for precise material and morphological analysis