Danija – Nuskaitantys elektroniniai mikroskopai – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU reikalauja tiekti, pristatyti, įrengti, įdiegti ir priimti vieną (1) fokusuotų jonų srauto skenuojančio elektroninio mikroskopo (FIB-SEM) dvigubosios srauto platformą. Instrumentas bus skirtas daugiamisiniam tyrimų aplinkai ir bus naudojamas aukštos išskirtinumo paviršiaus vaizdavimui, vietos specifiniam skersiniam pjovimui, TEM lamelų paruošimui (įskaitant automatizuotus darbo procesus), 3D FIB-SEM tomografijai, dujų pagrinduojamam nuosėdų ir erozijai, nanometrinės manipuliacijai ir elementinei mikroanalizei energijos dispersinių rentgeno spindulių spektroskopija (EDS) ir ToF-SIMS.