Praleisti į turinį
Grįžti į paiešką

Danija – Tikrinimo ir matavimo mašinos ir aparatai – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDanijaPaskelbta 2026-10-04
9 dienos liko

Aprašymas

Šiame užsakymo siūlyme yra DTU Nano planuojama fotoninės susijungimo stoties ir fotoninės plokštelės tyrimo stoties įsigijimas. Užsakymas suskirstytas į du dalinius – kiekvienam iš dviejų stotelių. Užsakymų teikėjai gali pasirinkti siūlyti vienam arba abiem daliniams, kurie bus atskirai vertinami ir skiriami. Susijungimo stotis skirtas optinių plokštelių jungimui su optiniu čipu. Jungimo tipas bus krašto jungimas naudojant bangų vedžių ciklus taikymui, bet jei reikia, taip pat galima atlikti taikymą naudojant šaltinį optiniame čipe (jei jis yra) arba naudojant išorinį šaltinį ir jungiant du FAU, vieną kiekvienoje pusėje čipo. Taigi, mašinos pagrindinė tikslas yra fotoninių čipų susijungimas ir plokštelių pririšimas. Sistema turėtų palaikyti tyrimus, prototipavimą, procesų vystymą, pilotinį gamybą ir mažo tūrio gamybos veiklą DTU Nano aukšto lygio gamybos patalpose. DTU turi veiklą srityse Silicon Photonics (SiPh), Photonic Integrated Circuits (PICs), Optical transceivers, Laser modules, Photodetectors, Fiber-optic assemblies, Co-packaged optics ir Quantum photonic devices, kurias norime palaikyti geriausia galima būdu. DTU todėl planuoja įsigyti perkonfigūruojamą, lengvai adaptuojamą, universalų mašiną. Fotoninės plokštelės tyrimo stoties tikslas yra charakterizuoti fotoninių integruotų schemų (PICs) kokybę. Turėtų būti galima charakterizuoti tiek optinį, tiek elektrinį atlikimą. Optiniams tyrimams pagrindinė jungimo į/iš technika bus per grating couplers, bet įranga turėtų būti galima perkonfigūruoti taip, kad būtų galima taip pat jungtis krašto jungimu komponentų paviršiams įrenginiuose plokštelėje. Šiuo atveju gali būti reikalingi skirtingi laikikliai ir plokštelės. Elektriniai charakteristikos turi būti charakterizuoti tiek DC, tiek RF iki 40 GHz naudojant sondas ir/arba sondų korteles. Sistema turėtų palaikyti tyrimus, vystymą, procesų patikrinimą ir kasdieninę charakterizavimo veiklą DTU Nano aukšto lygio gamybos patalpose.

CPV kodai

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Dokumentai ir pateikimas

AI santrauka
Prisijunkite, kad gautumėte AI santrauką

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Susiję pirkimai