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Németország – Árammennyiség-mérő műszerek – 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikVokietijaPaskelbta 2026-06-15
Galutinis terminas praėjo
VokietijaAprašymas
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
CPV kodai
Instruments for measuring electrical quantitiesMachines and apparatus for testing and measuring
Dokumentai ir pateikimas
AI santrauka
Prisijunkite, kad gautumėte AI santraukąContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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