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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Elektronenstrahllithografie
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-NürnbergVācijaPublicēts 2026. g. 21. okt.
32 dienas atlikušas
VācijaApraksts
Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).
CPV kodi
Scanning electron microscopesMicroelectronic machinery and apparatus
Dokumenti & iesniegšana
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Piesakieties, lai iegūtu AI kopsavilkumuContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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