Dānija – Skenējošie elektronmikroskopi – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU vajag piegāde, izvietošanu, instalāciju, iekļaušanu un pieņemšanu vienam (1) fokusētajam ions stara skenēšanas elektronmikroskopam (FIB-SEM) dubultstara platformai. Instruments tiks izmantots daudzlietotāju pētījumu vidē un tiks izmantots augstas izšķirtspējas virsmas attēlošanai, vietas specifiskai šķēlumu izgatavošanai, TEM lamelu sagatavošanai (ieskaitot automatizētos darbību process), 3D FIB-SEM tomogrāfijai, gāzes palīdzības nogulsnēšanai un ēdēšanai, nanomašīnu manipulācijai un elementārās mikroanalīzes veikšanai ar enerģijas dispersijas rentgenstaru spektroskopiju (EDS) un ToF-SIMS.