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Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Friedrich-Schiller-Universität JenaVācijaPublicēts 2026. g. 23. sept.
32 dienas atlikušas
VācijaApraksts
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
CPV kodi
Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
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