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Francija – Skenējošie elektronmikroskopi – Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques
Université Gustave EiffelFrancijaPublicēts 2026. g. 24. jūn.
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Elektroniskais skenējošais mikroskops ar EDS spektrometru un specifiskiem piedevām
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Scanning electron microscopes
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