L-Iżvizzera – Tagħmir tal-laboratorju, ottiku u ta' preċiżjoni (minbarra nuċċalijiet) – Un système XPS de pointe équipé d'une source UV pour l'UPS, d'un canon à ions monoatomiques et d'un canon à agrégats gazeux pour le profilage en profondeur

L-Institut għall-Kemika u l-Inġenjierija (ISIC) tal-Università Teknika Federali tal-Laussana (EPFL) jintendi jixxirru sistema XPS modernissimu bil-ħlasa UV għal UPS, sorgente ta' joni monoatomika u sorgente ta' klasteri ta' gaz għal il-profilatura ta' profondità. Il-ħlasa se tħallu f'accessu aħjar u tservi dwar 40 gruppi ta' ricerka, prinċipalment minn ISIC u minn l-Institut għall-Materjali u l-Teknoloġija tal-Materjali (IMX), u oħrajn użarji minn kollha EPFL. Fi kontekstu ta' dan il-ħlasa aħjar u multipli użarji, l-ħażin ta' l-ħardwar u l-software, l-ħażin ta' l-erruri, l-artefatti ta' misur, u l-ħażin ta' l-ħallu użarji, jkunu kriterji essenzjali. Minħabba l-varjetà kbar ta' ricerka li tħalli f'EPFL, il-ħlasa li tħallu tikkunżumaw il-ħażin ta' funzjonament kbar. Ma tikkunżumawx għal tip ta' misur partikolari, u tikkunżumaw il-biex tiftaħ il-possibilità għal estensjonijiet u żviluppijiet futuri.