Vjaġġa lill-kontenut
Regħa għall-ftit

In-Netherlands – Makkinarju, u apparat, mikro-elettroniku u mikro-sistemi – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNOin-NetherlandsNpubblikat fi 27 Lul 2026
41 ajam left

Deskrizzjoni

Il-prinċipali skop ta' dan il-ħaġaġ FIB/SEM hu li jgħin il-milling (tagħtiġ) tal-materjali, il-ħarakterizzazzjoni 3D u l-analizi tal-ċross-sezzjoni ta' strutturi ta' InP, InGaAs, InAlGaAs u InGaAsP li jgħinħaw epitaksjalment fuq substrati ta' InP. Dan il-strutturi jistgħu jkunu jħutlu b'strati ta' planarizzazzjoni b'poliġeneri, strati dieletrici ta' SiOx jew SiNx u strati metalliċi ta' TiPtAu jew NiGeAu. Levering van één SEM +FIB systeem.

Kodi CPV

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Dokumenti & sottomissjoni

Riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali
Iġib il-ħdan għal riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Offerti relatati