Id-Danimarka – Mikroskopju elettroniku ta' l-iskenjar – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU jgħidilha l-furnitur, il-deliverja, l-installazzjoni, il-commissioning u l-akkettazzjoni ta' wħud (1) platforma FIB-SEM dual-beam ta' mikroskopju ta' skanning tal-ikoni fokusati. L-instrument jservi ambjent ta' ricerka multi-user u jkun użat għal imaging tal-surfacc tal-alta risoluzzjoni, cross-sectioning specifik għas-sit, preparazzjoni ta' lamella TEM (inkluziva ta' workflows automatizzati), 3D FIB-SEM tomography, depozizzjoni u etching assistit minn gas, manipolazzjoni nanoscale, u mikroanalisi tal-elementi per EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) u ToF-SIMS.