Il-Ġermanja – Mikroskopji b'sonda għall-iskenjar – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

L-ogġett ta' din il-biżża' huwa l-istampa ta' mikroskopju tal-forza tal-raster (AFM) bil-risoluzzjoni l-aktar alta, inklużi l-komponenti tal-hard- u software kollha li jkollhom bżonn għall-operazzjoni. Il-sistema jservi għall-karatterizzazzjoni bil-risoluzzjoni l-aktar alta ta' superfici u għawdexxijiet fuq skala nanometriku u atomiku, speċifikament għal misurazzjonijiet 3D-AFM fi żjied u għal misurazzjonijiet ta' żmien ta' durata ta' żmien b'minimizzazzjoni tal-drift fi applikazzjonijiet ta' r-riċerka.