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Franciaország – Pásztázó elektronmikroszkópok – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Université de Technologie de CompiègneFranzaNpubblikat fi 09 Ġun 2026
Deadline passat
FranzaDeskrizzjoni
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Kodi CPV
Scanning electron microscopes
Dokumenti & sottomissjoni
Riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali
Iġib il-ħdan għal riżumat tal-Intelligenza ArtifiċjaliContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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