Regħa għall-ftit
Németország – Laboratóriumi, optikai és precíziós felszerelések (kivéve szemüvegek) – Lieferung von einem Laser Imaging System (Gebrauchtgerät)
Charité - Universitätsmedizin Berlinil-ĠermanjaNpubblikat fi 13 Set 2026
29 ajam leftDeskrizzjoni
Die Charité - Universitätsmedizin Berlin, Charitéplatz 1, 10117 Berlin, veröffentlicht ein Vergabeverfahren, dessen Ausschreibungsgegenstand die Lieferung, der Einbau und die Inbetriebnahme von einem Laser Imaging System (Gebrauchtgerät) ist. Es bestehen gesonderte Anforderungen nach dem Berliner Ausschreibungs- und Vergabegesetz (BerlAVG), siehe Vergabeunterlagen. Nähere Informationen können den auf der Vergabeplattform der Charité (https://vergabeplattform.charite.de) zur Verfügung gestellten Unterlagen entnommen werden.
Kodi CPV
Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
Dokumenti & sottomissjoni
Riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali
Iġib il-ħdan għal riżumat tal-Intelligenza ArtifiċjaliContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
Offerti relatati
Németország – Ellenőrző és tesztelőkészülékek – Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes
Technische Universität Hamburgil-ĠermanjaChecking and testing apparatusMeasuring instrumentsDeadline fi 31 ajamIppubblikat f'13 Set 2026
Németország – Laboratóriumi, optikai és precíziós felszerelések (kivéve szemüvegek) – Streak-Kamera-Detektorsystem
Freie Universität Berlinil-ĠermanjaLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Deadline fi 36 ajamIppubblikat f'13 Set 2026
Németország – Laboratóriumi, optikai és precíziós felszerelések (kivéve szemüvegek) – Integrierte Pflanzen-Phänotypisierungsplattform
Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Abteilung 4 - Bau, Liegenschaften und Gebäudemanagementil-ĠermanjaLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Electronic technical balancesOptical instrumentsDeadline fi 32 ajamIppubblikat f'13 Set 2026
Németország – Gépek és készülékek tesztelésre és mérésre – Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronikil-ĠermanjaMachines and apparatus for testing and measuringDeadline fi 29 ajamIppubblikat f'13 Set 2026