Vjaġġa lill-kontenut
Regħa għall-ftit

L-Iżvezja – Mikroskopju elettroniku ta' l-iskenjar – EDS and EBSD attachment to a field-emission scanning electron microscope

Kungliga Tekniska högskolanl-IżvezjaNpubblikat fi 30 Set 2026
8 ajam left

Deskrizzjoni

KTH Royal Institute of Technology jgħidilhom għall-offerte għal sistem integrat għal spektroskopija b'X-ray dispersiva tal-enerġija (EDS) u diffrazione tal-elettroni b'backscatter (EBSD), li jkunu mħallqa fuq il-mikroskopju tal-elettroni skannant b'field-emission JEOL JSM-7800F (FE-SEM) li jinsab fil-Laboratorju Hultgren.

Kodi CPV

Scanning electron microscopes

Dokumenti & sottomissjoni

Riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali
Iġib il-ħdan għal riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Offerti relatati