Il-Ġermanja – Tagħmir tal-laboratorju, ottiku u ta' preċiżjoni (minbarra nuċċalijiet) – Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers

Aċċessjoni ta' sistem ta' Wafer-Prober semi-automatiku inklużiv ta' sistem ta' karakterizzazzjoni integrat għal karakterizzazzjoni elettriku ta' Wafer 200-mm. Il-ħaġa tal-ħaġa tinkludi l-ipprovvizzjoni, l-installazzjoni, l-operazzjoni u l-traininġ tal-ħaddiema.