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Portugália – Pásztázó elektronmikroszkópok – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Universidade de Aveiroil-PortugallNpubblikat fi 21 Ġun 2026
Deadline passat
il-PortugallDeskrizzjoni
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Kodi CPV
Scanning electron microscopes
Dokumenti & sottomissjoni
Riżumat tal-Intelligenza Artifiċjali
Iġib il-ħdan għal riżumat tal-Intelligenza ArtifiċjaliContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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