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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Elektronenstrahllithografie
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-NürnbergDuitslandGepubliceerd op 21 okt 2026
32 dagen over
DuitslandBeschrijving
Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).
CPV-codes
Scanning electron microscopesMicroelectronic machinery and apparatus
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Meld je aan voor een AI samenvattingContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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