Naar inhoud overslaan
Terug naar zoeken

Nederland – Micro-elektronische machines en toestellen en microsystemen – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNONederlandGepubliceerd op 27 jul 2026
41 dagen over

Beschrijving

The main purpose of this FIB/SEM equipment is to perform material milling (cutting), 3D characterization, and cross section analysis of epitaxially grown InP, InGaAs, InAlGaAs and InGaAsP layers on InP substrates. The structures may also contain polymer-based planarization layers, SiOx or SiNx dielectric layers and TiPtAu or NiGeAu metal layers. Levering van één SEM +FIB systeem

CPV-codes

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Documenten & inzending

AI samenvatting
Meld je aan voor een AI samenvatting

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Vergelijkbare aanbestedingen