Denemarken – Aftastingselektronenmicroscopen – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU heeft de levering, aflevering, installatie, ingebruikname en acceptatie van één (1) FIB-SEM dual-beam platform voor een geconcentreerde ionenbundel rasterelektronenmicroscoop nodig. Het instrument dient een multi-user onderzoeksomgeving en zal worden gebruikt voor hoogresolutieoppervlaktebeeldvorming, plaatsspecifiek doorsnijding, TEM lamella preparatie (inclusief geautomatiseerde workflows), 3D FIB-SEM tomografie, gasgestuurde afzetting en etsen, nanoschaal manipulatie en elementaire microanalyse door energiedispersieve röntgenspectroscopie (EDS) en ToF-SIMS.