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Franciaország – Pásztázó elektronmikroszkópok – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Université de Technologie de CompiègneFrankrijkGepubliceerd op 09 jun 2026
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FrankrijkBeschrijving
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
CPV-codes
Scanning electron microscopes
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Meld je aan voor een AI samenvattingContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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