Duitsland – Oppervlakte-observatieapparatuur – High resolution X-ray inspection tool

Het Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS onderzoekt het toepassingsgedrag, betrouwbaarheid, veiligheid en levensduur van innovatieve materialen in componenten en systemen. De Business Unit “Electronic Materials and Components” van Fraunhofer IMWS ondersteunt industrie en onderzoekspartners met zijn internationaal erkende expertise in falingsanalyses van elektronische componenten. Fraunhofer IMWS zal zijn capaciteiten voor geavanceerde falingsanalyse en materiaalkarakterisering verbeteren om de opstart van nieuwe heterogene integratietechnologieën te ondersteunen, waarbij de productie- en betrouwbaarheidsuitdagingen worden aangepakt. Om de niet-destructieve detectie en evaluatie van structuurafwijkingen, contactdefecten, schadekenmerken en hun zo nauwkeurig mogelijk lokalisatie in het pakket te mogelijk te maken, zodat verder hoge-resolutie fysieke diagnostiek kan worden uitgevoerd, zijn in het bijzonder de nieuwste generatie radiografie (2D) en röntgentomografie (3D-CT) systemen nodig voor de niet-destructieve detectie en evaluatie van structuurafwijkingen, contactdefecten, schadekenmerken en hun zo nauwkeurig mogelijk lokalisatie in het pakket om verder hoge-resolutie fysieke diagnostiek mogelijk te maken. Er is een hoogprestatie multi-processor werkstation nodig voor de postverwerking van de gegenereerde beeldgegevenssets om kleine afwijkingen en defecten binnen de apparaten te identificeren. Dit aanbestedingsdocument betreft de levering van een volledig functionerend apparaat inclusief montage, ingebruikname en alle noodzakelijke aansluitingen, goedkeuringen/certificeringen en software voor de bediening. De eisen voor een state-of-the-art röntgeninspectietool voor hoog geïntegreerde 2.5/3D componenten zijn hieronder beschreven: