Dania – Skanujące mikroskopy elektronowe – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU wymaga dostarczenia, dostawy, instalacji, uruchomienia i zaakceptowania jednej (1) platformy FIB-SEM dual-beam. Instrument ma służyć wieloużytkowniczej środowisku badawczemu i będzie używany do wysokorozdzielczej wizualizacji powierzchni, site-specific cross-sectioning, przygotowania lamelli TEM (w tym automatycznych procesów), 3D FIB-SEM tomografia, depozycji i trawienia z asystą gazową, manipulacji na nanoskalę, oraz mikroanalizy elementarnej metodą spektroskopii rentgenowskiej dyspersyjnej energii (EDS) i ToF-SIMS.