Niemcy – Mikroskopy z sondą skanującą – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Przedmiotem zamówienia jest wysokorozdzielcze mikroskop sił atomowych (AFM) wraz z całym zestawem wymaganych do jego eksploatacji komponentów sprzętowych i programowych. System służy do wysokorozdzielczego charakteryzowania powierzchni i granic faz na skali nanometrowej i atomowej, zwłaszcza do pomiarów 3D-AFM w cieczach oraz pomiarów długoterminowych o małym drifcie w zastosowaniach badawczych.