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Franciaország – Pásztázó elektronmikroszkópok – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Université de Technologie de CompiègneFrancjaOpublikowano 09 cze 2026
Termin minął
FrancjaOpis
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Kody CPV
Scanning electron microscopes
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Podsumowanie AI
Zaloguj się, aby uzyskać podsumowanie AIContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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