Pomiń treść
Powrót do wyszukiwania

Belgia – Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgiaOpublikowano 03 cze 2026
Brak terminu

Opis

WAFER-CAPABLE PLASMA FOCUSED ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (PFIB-SEM) SYSTEM

System skaningowego mikroskopu elektronowego z plazmowym skupionym wiązką jonów (PFIB-SEM) zdolny do obróbki waferów

Kody CPV

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

Dokumenty i przesyłka

Podsumowanie AI
Zaloguj się, aby uzyskać podsumowanie AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Powiązane zamówienia