Powrót do wyszukiwania
Polska – Aparatura kontrolna i badawcza – Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii
Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki WarszawskiejPolskaOpublikowano 27 sie 2026
33 dni pozostałoOpis
Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii.
Kody CPV
Checking and testing apparatus
Dokumenty i przesyłka
Podsumowanie AI
Zaloguj się, aby uzyskać podsumowanie AIContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
Powiązane zamówienia
Lengyelország – Észlelő- és analizálóberendezések – Dostawa dwóch wytrząsarek termicznych wraz z zestawami wymiennych bloków grzewczych dla Międzyuczelnianego Wydziału Biotechnologii Uniwersytetu Gdańskiego i Gdańskiego Uniwersytetu Medycznego
Uniwersytet GdańskiPolskaDetection and analysis apparatusTermin za 18 dniOpublikowano 27 sie 2026
Lengyelország – Analizátorok – SZP/243-235/2026 Dostawa zestawu do badań bezpieczeństwa elektrycznego (LVD) z akcesoriami w ramach projektu „Centrum Technologii Bezpieczeństwa Publicznego”.
Politechnika WrocławskaPolskaAnalysersDetection and analysis apparatusTermin za 11 dniOpublikowano 27 sie 2026
Lengyelország – Citométerek – ZP/76/2026 Dostawa sortera komórkowego w ramach realizacji projektu „BRaIn 2.0 - Inkubator Modeli Badawczych''
Uniwersytet Medyczny w ŁodziPolskaCytometersLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Termin za 31 dniOpublikowano 27 sie 2026
Lengyelország – Mikroszkópok – SZP/243-254/2026 Zintegrowane stanowisko do obrazowania dla Wydziału Chemicznego Politechniki Wrocławskiej
Politechnika WrocławskaPolskaMicroscopesTermin za 25 dniOpublikowano 27 sie 2026