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France – Microscopes électroniques à balayage – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Université de Rouen NormandieFrançaPublicado em 04 de mai. de 2026
Prazo expirado

Descrição

Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie

Códigos CPV

Scanning electron microscopesMachines and apparatus for testing and measuringLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

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