Dinamarca – Microscópios electrónicos de varrimento – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU requer a fornecimento, entrega, instalação, comissionamento e aceitação de uma (1) plataforma de microscopia eletrônica de varredura de feixe de íons focado (FIB-SEM) de feixe duplo. O instrumento servirá a um ambiente de pesquisa multi-usuário e será utilizado para imagem de superfície de alta resolução, corte transversal específico do local, preparação de lamelas TEM (incluindo fluxos de trabalho automatizados), tomografia 3D FIB-SEM, deposição e gravação assistida por gás, manipulação na escala nanométrica e microanálise elementar por espectroscopia de raios X dispersiva de energia (EDS) e ToF-SIMS.