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France – Microscopes électroniques à balayage – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Université de Rouen NormandieFranțaPublicat pe 04 mai 2026
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Descriere

Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie

Coduri CPV

Scanning electron microscopesMachines and apparatus for testing and measuringLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

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