Germania – Microscoape cu sondă de scanare – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Obiectul achiziției este un microscop cu forță atomică (AFM) cu rezoluție foarte înaltă, inclusiv toate componentele hardware și software necesare pentru funcționare. Sistemul este destinat caracterizării cu rezoluție înaltă a suprafețelor și interfețelor la nivel nano și atomic, în special pentru măsurătorile 3D-AFM în lichide, precum și măsurătorile de lungă durată fără derivație în aplicații de cercetare.