Sări la conținut
Înapoi la căutare

Belgia – Echipamente de laborator, optice şi de precizie (cu excepţia ochelarilor) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgiaPublicat pe 03 iun. 2026
Nu este dată deadline

Descriere

Sistem de MICROSCOPIE ELECTRONICĂ cu SCANARE cu FASCICUL de IONI FOCUSAT cu PLASMĂ (PFIB-SEM) CAPABIL de WAFER

Coduri CPV

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

Documente și transmitere

Rezumat AI
Conectează-te pentru un rezumat AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Achiziții similare