Preskočiť na obsah
Späť na vyhľadávanie

Holandsko – Mikroelektronické stroje a prístroje a mikrosystémy – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNOHolandskoZverejnené dňa 27. 7. 2026
41 dni zostávajú

Popis

Hlavný účel tohoto zariadenia FIB/SEM je vykonávať materiálové frézovanie (rezanie), 3D charakterizáciu a analýzu priečnych rezov epitaxicky vyrastnutých vrstiev InP, InGaAs, InAlGaAs a InGaAsP na substrátoch InP. Štruktúry môžu obsahovať aj polymerové planárne vrstvy, dielektriky SiOx alebo SiNx a kovové vrstvy TiPtAu alebo NiGeAu.

Kódy CPV

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Dokumenty a odovzdanie

AI shrnutie
Prihlásiť sa pre AI shrnutie

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Súvisiace zákazky