Dánsko – Skenovacie elektrónové mikroskopy – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU vyžaduje dodávku, dopravu, inštaláciu, spustenie a prijatie jednej (1) platformy FIB-SEM s dvojitým zväzkom. Prístroj bude slúžiť viacužívateľskému výskumnému prostrediu a bude sa používať na vysokorozlíšnené povrchové obrazovanie, lokalizované prierezovanie, prípravu lamel pre TEM (vrátane automatizovaných pracovných postupov), 3D FIB-SEM tomografiu, plynom podporované nanosenie a vylučovanie, nanorozmerové manipulácie a elementárnu mikroanalýzu pomocou energeticky disperznej rentgenovej spektroskopie (EDS) a ToF-SIMS.