Preskočiť na obsah
Späť na vyhľadávanie

Dánsko – Testovacie a meracie stroje a prístroje – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDánskoZverejnené dňa 04. 10. 2026
8 dni zostávajú

Popis

Toto výzva sa týka plánovanej nákupy DTU Nano na Fotonickej montážnej stanici a na Fotonickej sondovej stanici pre wafer. Výzva je rozdelená do dvoch lotov – jeden pre každú z dvoch staníc. Ponúkajúci sa môžu rozhodnúť, či sa budú uchádzať o jeden alebo oba loty, ktoré budú hodnotené a udelené samostatne. Montážna stanica je určená na spojenie optických vlákien (FAUs) s optickým čipom. Typ spojenia bude hranové spájanie pomocou vlnovodových slúžok na zariadenie, ale ak je to nutné, môže byť zariadenie tiež vykonané buď pomocou zdroja svetla na čipe (ak existuje) alebo pomocou externého zdroja svetla a pripojenie dvoch FAUs, na každej strane čipu. Hlavným účelom stroja je vykonávať montáž a pripojenie optických vlákien fotonickej čipu. Systém má podporovať výskum, prototypovanie, vývoj procesov, pilotné výroby a výrobu v malých objemoch v rámci pokročilého výrobného zariadenia DTU Nano. DTU má aktivity v oblasti Silicon Photonics (SiPh), Fotonickej integrovaných obvodov (PICs), optických prepojníkov, laserových modulov, fotodetektorov, optických vláknových zariadení, optických súborov a kvantových fotonickej zariadení, ktoré chceme podporovať najlepším možným spôsobom. DTU preto zamýšľa nakúpiť prekonfigurovateľný, flexibilný, verzný stroj. Účelom fotonickej sondovej stanice pre wafer je charakterizovať kvalitu fotonickej integrovaných obvodov (PICs). Mali by byť schopné charakterizovať aj optické aj elektrické vlastnosti. Pri optickej charakterizácii bude hlavnou technikou spájania v/zo vstupom/výstupom cez reťazové spojky, ale zariadenie by malo byť možné konfigurovať aj na hranové spájanie s komponentmi v záreze na wafer. V tomto prípade môžu byť potrebné rôzne držadlá a vlákna. Elektrické vlastnosti budú charakterizované v DC aj RF až do 40GHz pomocou sondy a/alebo sondových karet. Systém má podporovať výskum, vývoj, kvalifikačné procesy a rutinnú charakterizáciu v rámci pokročilého výrobného zariadenia DTU Nano.

Kódy CPV

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Dokumenty a odovzdanie

AI zhrnutie
Prihlásiť sa pre AI zhrnutie

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Súvisiace zákazky