Preskočiť na obsah
Späť na vyhľadávanie

Belgicko – Laboratórne, optické a presné prístroje a vybavenie (s výnimkou skiel) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgickoZverejnené dňa 03. 6. 2026
Nebol zadaný dátum splatnosti

Popis

WAFER-KAPÁBNY PLÁZMOVÝ FOKUSOVANÝ IONOVÝ ZÁRKOVÝ SKENOVACÍ ELEKTRONOVÝ MIKROSKOP (PFIB-SEM) Systém

Kódy CPV

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

Dokumenty a odovzdanie

AI zhrnutie
Prihlásiť sa pre AI zhrnutie

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Súvisiace zákazky