Preskoči na vsebino
Nazaj na iskanje

Švedska – Mikroskopi – Atomic Force Microscope (AFM)

Chalmers Tekniska Högskola AktiebolagŠvedskaObjavljeno dne 20. jul. 2026
44 dni preostanka

Opis

Atomska silna mikroskopija (AFM) za karakterizacijo vzorcev plasti in površin v suhem okolju ter v tekočih okoljih.

CPV kodi

MicroscopesChecking and testing apparatus

Dokumenti in oddaja

Povzetek AI
Prijavi se za povzetek AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Povezana naročila