Preskoči na vsebino
Nazaj na iskanje

Nizozemska – Mikroelektronski stroji in aparati ter mikrosistemi – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNONizozemskaObjavljeno dne 27. jul. 2026
41 dni preostanka

Opis

Glavni namen tega opreme FIB/SEM je izvajanje materialnega mlinjenja (rezanja), 3D karakterizacije in prečnega reza analize epitaksijski rasti InP, InGaAs, InAlGaAs in InGaAsP plasti na InP substratih. Strukture lahko vsebujejo tudi polimerne planarnostne plasti, dielektrične plasti SiOx ali SiNx in metalne plasti TiPtAu ali NiGeAu. Levering van één SEM +FIB systeem

CPV kodi

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Dokumenti in oddaja

Povzetek AI
Prijavi se za povzetek AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Povezana naročila