Preskoči na vsebino
Nazaj na iskanje

Belgija – Laboratorijska, optična in precizna oprema (razen očal) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgijaObjavljeno dne 03. jun. 2026
Ni danega roka

Opis

VAFER-SPOSOBEN SISTEM PLASMATSKE FOKUSIRANE IONSKE SNOPNE SKENIRANE ELEKTRONSKE MIKROSKOPE (PFIB-SEM)

CPV kodi

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

Dokumenti in oddaja

Povzetek AI
Prijavi se za povzetek AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Povezana naročila