Danmark – Svepelektronmikroskop – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU behöver leverans, leverans, installation, kommissionering och godkännande av en (1) fokuserad jonstråle skannande elektronmikroskop (FIB-SEM) dubbelstråleplattform. Instrumentet ska tjänstgöra i en multi-användar forskningsmiljö och kommer att användas för högupplöst ytbildning, platsspecifik tvärsnittning, TEM lamell förberedelse (inklusive automatiserade arbetsflöden), 3D FIB-SEM tomografi, gasassisterad deposition och etsning, nanoskala manipulation och elementär mikroanalys genom energidispersiv röntgenspektroskopi (EDS) och ToF-SIMS.