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Frankreich – Rasterelektronenmikroskope – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Université de Rouen NormandieFrankreichVeröffentlicht am 04. Mai 2026
Frist abgelaufen

Beschreibung

Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie

CPV-Codes

RasterelektronenmikroskopeMaschinen und Geräte zum Prüfen und MessenLaborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

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