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Schweden – Mikroskope – Atomic Force Microscope (AFM)
Chalmers Tekniska Högskola AktiebolagSchwedenVeröffentlicht am 20. Juli 2026
Frist abgelaufen
SchwedenBeschreibung
Atomkraftmikroskop (AFM) zur Charakterisierung von Filmproben und Oberflächen sowohl unter trockenen Bedingungen als auch in flüssigen Umgebungen.
CPV-Codes
MikroskopeApparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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