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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Elektronenstrahllithografie
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-NürnbergDeutschlandVeröffentlicht am 21. Okt. 2026
Noch 32 Tage
DeutschlandBeschreibung
Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).
CPV-Codes
RasterelektronenmikroskopeMikroelektronische Maschinen und Geräte
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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