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Schweden – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Semiautomatic ellipsometer
Kungliga Tekniska högskolanSchwedenVeröffentlicht am 09. Sept. 2026
Noch 32 Tage
SchwedenBeschreibung
KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.
CPV-Codes
Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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