Dänemark – Rasterelektronenmikroskope – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU benötigt die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Abnahme einer (1) fokussierten Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop-Dualstrahlplattform (FIB-SEM). Das Instrument soll in einer Mehrbenutzer-Forschungsumgebung eingesetzt werden und dient der hochauflösenden Oberflächenbildgebung, ortsspezifischen Querschnittsbildung, TEM-Lamellenpräparation (einschließlich automatisierter Workflows), 3D FIB-SEM-Tomographie, gasunterstützter Abscheidung und Ätzung, Nanomanipulation und elementarer Mikroanalyse durch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und ToF-SIMS.