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Deutschland – Rastersondenmikroskope – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität BayreuthDeutschlandVeröffentlicht am 11. Nov. 2026
Noch 15 Tage
DeutschlandBeschreibung
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
CPV-Codes
RastersondenmikroskopeMikroskope
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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