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Frankreich – Rasterelektronenmikroskope – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Université de Technologie de CompiègneFrankreichVeröffentlicht am 09. Juni 2026
Frist abgelaufen
FrankreichBeschreibung
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
CPV-Codes
Rasterelektronenmikroskope
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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