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Belgien – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM
Imec EU Pilot line NVBelgienVeröffentlicht am 03. Juni 2026
Keine Frist angegebenBeschreibung
WAFER-FÄHIGES PLASMA-FOKUSSIERTES IONENSTRAHL-RASTERELEKTRONENMIKROSKOP (PFIB-SEM) SYSTEM
CPV-Codes
Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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