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Belgien – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgienVeröffentlicht am 03. Juni 2026
Keine Frist angegeben

Beschreibung

WAFER-FÄHIGES PLASMA-FOKUSSIERTES IONENSTRAHL-RASTERELEKTRONENMIKROSKOP (PFIB-SEM) SYSTEM

CPV-Codes

Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

Unterlagen & Angebotsabgabe

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